Microscópio eletrônico de varredura de pistola de emissão de campo Schottky A63.7081 Pro FEG SEM, 15x ~ 800000x

A63.7081 Schottky Field Emission Gun Scanning Electron Microscope Pro FEG SEM, 15x~800000x Featured Image

Pequena descrição:

Microscópio eletrônico de varredura com pistola de emissão de campo Schottky 15x ~ 800000x
Aceleração de feixe E com fonte de corrente de feixe estável Excelente imagem sob baixa tensão
Amostra de não condução pode ser observada diretamente, sem necessidade de ser pulverizada em baixa tensão
Interface de operação fácil e amigável, tudo controlado pelo mouse no sistema Windows
Grande sala de amostra com estágio motorizado eucêntrico de cinco eixos Tamanho grande, Diâmetro máximo da amostra.
Quantidade mínima de pedido:1

Detalhes do produto

Tags de produto

A63.7081_01.jpg

Descrição do Produto

A63.7081 Schottky Field Emission Gun Microscópio Eletrônico de Varredura Pro FEG SEM
Resolução		1 nm a 30 KV (SE); 3nm @ 1KV (SE); 2,5nm@30KV (BSE)
Ampliação		15x ~ 800000x
Canhão de elétrons		Schottky Emission Electron Gun
Corrente de feixe de elétrons		10pA ~ 0,3μA
Acelerando a Voatage		0 ~ 30KV
Sistema de Vácuo		2 bombas de íons, bomba turbo molecular, bomba mecânica
Detector		SE: Detector de elétrons secundários de alto vácuo (com proteção do detector)
		BSE: Detector de espalhamento traseiro de segmentação de quatro semicondutores
		CCD
Estágio de Amostra		Estágio Eucêntrico Motorizado de Cinco Eixos
Alcance de viagem	X	0 ~ 150mm
	Y	0 ~ 150mm
	Z	0 ~ 60mm
	R	360º
	T	-5º ~ 75º
Diâmetro máximo da amostra		320mm
Modificação		EBL; STM; AFM; Estágio de aquecimento; Estágio de criogenia; Estágio de tração; Micronanomanipulador; SEM + Máquina de revestimento; SEM + Laser etc.
Acessórios		Detector de raios-X (EDS), EBSD, CL, WDS, Máquina de revestimento etc.

A63.7081_03.jpg

A63.7081_04.jpg

A63.7081_05.jpg

A63.7081_06.jpg

A63.7081_07.jpg

A63.7081_08.jpg

A63.7081_09.jpg

A63.7081_10.jpg

A63.7081_11.jpg

Vantagem e Casos

A microscopia eletrônica de varredura (sem) é adequada para a observação da topografia de superfície de metais, cerâmicas, semicondutores, minerais, biologia, polímeros, compósitos e materiais unidimensionais, bidimensionais e tridimensionais em escala nano (imagem de elétrons secundários, imagem retroespalhada de elétrons). Pode ser usado para analisar os componentes de ponto, linha e superfície da microrregião. É amplamente utilizado em petróleo, geologia, campo mineral, eletrônica, campo de semicondutor, medicina, campo de biologia, indústria química, campo de material polimérico, investigação criminal de segurança pública, agricultura, silvicultura e outros campos.